| 項次 | 料號 | 數量 | 單位 | 需用日 | 小計 |
| | 品名規格 | | | 單價 | |
| 規格 | |
| 10 |
|
1 |
EA |
20261130 |
|
| | CAD 規格導向影像自動定位與尺寸量測演算法調查與開發購案需求 | | |
________________ |
________________ |
| | 一、 用途說明:為執行本計畫之智慧製造與製程影像自動檢測能力建置,針對精 密加工後固定圖樣之尺寸與位置檢查需求,需委託廠商進行 CAD/DXF 幾何資訊解 析、影像特徵定位、自動尺寸量測及批次檢測演算法之調查、開發與測試驗證。現 行檢查方式係以 sliding window 方式取得大量局部影像,再由人工逐張確認加工 圖樣之尺寸、位置與置中狀態,當影像數量增加時,人工檢查負擔及判讀一致性皆 受到影響。 二、目的: ✓ 調查並評估適用於 CAD/DXF 幾何解析、影像定位、幾何量測及批次檢測之相關 演算法。 ✓ 建立 CAD/DXF 設計尺寸與實際拍攝影像之量測項目對應方法。 ✓ 建立以少量人工基準標註為起始之影像關鍵點自動定位演算法,支援後續大量影 像自動搜尋對應特徵。 ✓ 建立梯形高度、總高度、底寬、左右距離等局部幾何尺寸之自動量測方法,並依 左右尺寸差異評估置中與幾何偏移。 ✓ 建立大量 sliding window 影像之批次自動量測與結果輸出流程,降低逐張人工 定位、量測及判讀需求。 ✓ 提供演算法實作、測試驗證、異常案例分析及使用說明,作為後續固定圖樣全檢 與 CAD 規格比對應用之技術基礎。 三、 交付項目 CAD 導向影像量測技術調查報告 ,,Survey 至少 10 種以上相關方法。 ,,內容包含 CAD/DXF 幾何解析、關鍵點偵測、邊緣與輪廓擷取、直線擬合、Pa ttern Matching、影像對位、幾何轉換及尺寸量測等方法之比較分析。 ,,分析各方法應用於固定圖樣、大量局部影像及微小尺寸量測之適用性與限制。 CAD/DXF 幾何資訊解析模組 ,,讀取 CAD/DXF 設計圖中之幾何結構及尺寸資訊。 ,,擷取與影像檢測相關之線段、輪廓、位置及尺寸等資訊。 ,,建立設計圖量測項目與實拍影像量測位置之對應關係。 影像關鍵點自動定位演算法 ,,以基準影像之人工標註結果建立幾何特徵與量測關係。 ,,支援左上、右上、左中、右中、左下及右下等關鍵位置之自動搜尋與定位。 ,,後續影像可依基準特徵自動尋找對應位置,降低逐張人工標註與定位需求。 ,,針對影像位置偏移、局部旋轉及成像差異進行定位穩定性處理。 局部幾何尺寸自動量測演算法 ,,依關鍵點與影像特徵自動建立水平、垂直及相關量測基準線。 ,,自動計算梯形高度、總高度、底寬及左右距離等尺寸。 ,,依左右距離差異計算中心偏移,評估待測結構之置中狀態。 ,,支援線段垂直關係及相關幾何偏移分析。 ,,支援 pixel 與實際物理尺寸之換算。 批次自動量測與測試驗證報告 ,,支援大量 sliding window 影像之批次輸入與自動量測。 ,,提供關鍵點定位成功率、尺寸量測結果、處理時間及異常案例分析。 ,,以人工標註/人工量測或 CAD 設計尺寸作為比較基準,進行量測結果驗證。 ,,至少以一組大量影像資料進行批次驗證,分析正常影像、定位異常及量測失敗 等案例。 使用手冊 ,,說明 CAD/DXF 與影像資料輸入格式、執行方式及尺度設定。 ,,說明基準影像之關鍵點標註方式及量測項目設定。 ,,說明批次量測、結果輸出、視覺化標示及異常狀況處理方式。 ,,說明演算法適用條件及操作限制。 四、 功能規格 需完成 CAD 規格導向之影像自動定位與尺寸量測演算法調查、評估與實作,包含 : ✓ CAD/DXF 資訊解析:可讀取設計圖之幾何結構、位置與尺寸資訊,建立後續影 像量測所需之規格基準。 ✓ 基準影像建立:支援使用者於基準影像設定至少 6 個幾何關鍵點,建立局部結 構與量測線段之相對關係。 ✓ 關鍵點自動定位:後續影像可依基準影像之幾何結構,自動搜尋並定位對應關鍵 點,降低逐張人工設定需求。 ✓ 量測基準自動建立:依定位結果自動建立水平線、垂直線及相關幾何量測基準。 ✓ 局部尺寸量測:支援梯形高度、總高度、底寬、左右距離等幾何尺寸之自動計算 。 ✓ 置中與幾何偏移分析:可依左右距離差異計算中心偏移,並分析水平/垂直幾何 關係,以判斷待測結構之置中與偏移情形。 ✓ 尺度換算:支援 pixel 與實際物理尺寸之換算,並提供尺度標定參數設定。 ✓ 批次自動量測:支援大量 sliding window 影像連續輸入,自動完成關鍵點定位 、尺寸計算及結果彙整。 ✓ CAD 規格比對:可將實際量測尺寸與 CAD/DXF 設計尺寸或設定之公差範圍進行 比較,提供後續規格判定所需資訊。 ✓ 結果輸出:提供關鍵點位置、量測線段、尺寸數值、中心偏移、影像視覺化標示 及批次量測結果。
|
|