| 項次 | 料號 | 數量 | 單位 | 需用日 | 小計 |
| | 品名規格 | | | 單價 | |
| 規格 | |
| 10 |
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1 |
CS |
20251219 |
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| | 失效分析委託服務 | | |
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| | 1.FIB/EDS(Dual Beam)-Helios高階,小時,Q'ty-10 2.SEM/ EDS(JEOL 7500F/ Hitachi 8220),小時,Q'ty-15 3.I-V Curve,小時,Q'ty-16 4.Nano-Prober / EBAC/ EBIC > 45nm,小時,Q'ty-11 5.Plasma FIB,小時,Q'ty-15 6.C-AFM(>16nm),小時,Q'ty-10 7.OM 數位拍照,張數,Q'ty-7 8.完工結案測試報告一份
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